
相對(duì)測(cè)量的平行度。
平行平晶,以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平行平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。具有高精度的平面性和平行性。
	
	
	
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					 規(guī) 格  | 
				
					 精 度  | 
				
					 塊數(shù)  | 
			
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					 0-25  | 
				
					 0.6μm  | 
				
					 4  | 
			
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					 25-50  | 
				
					 0.6μm  | 
				
					 4  | 
			
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					 50-75  | 
				
					 0.6μm  | 
				
					 4  | 
			
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					 75-100  | 
				
					 1.0μm  | 
				
					 4  |